吉森总部技术日

来自德国各地的 40 多名与会者一如既往地踊跃参加了 12 月 4 日的吉森技术日活动。来自工业界的用户报告"使用 CT 进行快速高效加工 " 和"断层扫描技术在 Faber-Castell 的应用 "分别由 toolcraft AG 的 Thomas Lender 和 Faber-Castell Cosmetics 的 Sebastian Spörl 作了介绍。茨维考应用科学大学的 Teresa Werner 教授博士介绍了"ISO 22081 和 DIN 2769 标准的新通用公差"。Werth 总经理 Dr.-Ing. habil.Ralf Christoph 对来宾表示欢迎，并介绍了当前坐标测量技术的发展趋势。

1987 年，公司创始人的遗孀玛丽亚-韦尔特（Maria Werth）成立了Siegfried Werth 博士-工程师基金会，以促进和资助非接触式尺寸测量领域的科研工作。今年，在Dr.-Ing. habil.Jürgen Czarske教授的建议，张杰的学士论文和Julian Lich 博士的博士论文获得了表彰。Robert Kuschmierz 博士发表了获奖感言。

最后，Werth 公司的专家们还带领大家进行了参观并解决了个别测量任务。– 明年在德国、奥地利和瑞士举办的技术日系列活动已在计划之中。