TomoScope® S Plus 和 Werth 长寿命透射源的 X 射线电压高达 240 kV，可实现高分辨率的快速测量。
TomoScope® S Plus 和 Werth 长寿命透射源的 X 射线电压高达 240 kV，可实现高分辨率的快速测量。
高达 240 kV 的 X 射线电压甚至可以对大型厚壁电池进行 X 射线测量。Werth ClearCT 可确保在短时间内完成低伪影测量。由于采用了锥形束和环形伪影消除原理，测量偏差也相应降低。这意味着可以测量任何形状的电池，包括棱柱电池、纽扣电池、袋装电池以及图中所示的圆柱形电池。
通过独特的 Werth 轮廓图像处理技术，图像、轮廓和元件滤波器可用于测量体积部分的所有几何特性。除了测量果冻卷或电池堆中阴极和阳极的悬垂或涂层厚度外，还可以测量堆叠精度和连接几何形状。此外，还可以检测尺寸仅为几微米的异物颗粒，并检查焊接和焊接接头。
