Werth 专业从事光学、探头、计算机断层扫描和多传感器技术以及微特征测量的三坐标测量系统（三坐标测量机）的开发、制造和销售。在这些细分市场的全球技术领先地位体现在一系列世界第一的设备技术和传感器专利上。
探头，用于配备尺寸为几十微米至几百微米（远小于 1 毫米）的探头元件的 坐标测量系统，探头元件尺寸为几十微米到几百微米（明显小于 1 毫米），可测量小型几何形状和敏感工件，通常触力较小。这些探头既可用于接触式测量，但由于操作更方便，更常用于多传感器坐标测量仪。
微测头 坐标测量机的测针小于 1 毫米（通常小于 100 微米），能够测量小而敏感的工件或几何形状，通常探测力小而精度高。
