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词汇表

与使用光学、探针、计算机断层扫描和多传感器的坐标测量有关的术语

接触式三坐标测量机

晶片测量

校准

在对三坐标测量机进行检查时,作为客户验收测试或设备维护的一部分,与标准校准值的测量偏差应根据 DIN ENISO 10360 和 VDI/VDE 2617 准则确定。校准时必须指定测量不确定度。为确保按照标准进行检查或校准,制造商或校准实验室应持有国家认可机构颁发的证书DAkkS 。

激光三角测量

激光传感器

自动化技术中经常使用的三角测量传感器仅适用于精度要求较低的测量任务:激光束和传感器的成像光学轴形成一个几十度的角度。这样,激光源、测量点和传感器之间就形成了一个三角形,通过角度关系可以确定所需的距离。福柯激光传感器(如 Werth Laser Probe)将传感器的成像光学系统的视场角作为三角测量角。借助合适的软件,测量误差得以大幅降低,从而满足高精度坐标测量仪的要求。

激光测距传感器

焦点变化法

焦距变化传感器

使用图像处理传感器的硬件,在光学轴上的不同位置拍摄图像。根据对比度变化,确定工件表面的位置。

紧凑型坐标测量系统

通过计算机断层扫描多传感器紧凑型设备,可以经济地进入坐标测量技术领域。TomoScope® XS 设备的基础是全新的导管设计和经过深入开发的智能设计解决方案。这使得计算机断层扫描三坐标测量机首次能够以与传统触觉或多传感器三坐标测量机大致相同的价格提供符合标准规格的产品。

计算机断层扫描-测量

CT测量是一种完整且无损的测量方法。工件在不同的旋转位置接受 X 射线照射,并根据拍摄的 2D 图像重建虚拟工件体积。该体积可用于无损检测(例如根据 BDG P201、P202 或 P203 准则)和组件分析。计算测量点云后,可以确定所有几何特性,并执行 3D 目标值与实际值的比较。通过最大限度地缩短首次取样时间,降低了开发成本。借助用于模具制造和增材制造的 CAD 模型,还可以在 WinWerth® 测量软件中直接进行工具修正。

计算机断层扫描仪

用于计算机断层扫描的坐标测量系统的简化

计算机断层扫描坐标测量系统

计量学

测量技术是指测量物理量的测量设备和程序及其开发和应用。

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